LDJD-B高頻介電常數(shù)測試設備

LDJD-B高頻介電常數(shù)測試設備可用于固體絕緣材料在高頻（10KHz-110MHz）下，高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介電常數(shù)和介質損耗因數(shù)，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等電性能的測試。

高頻介電常數(shù)測試設備適用標準

GB/T 1409-2006 《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法》（等效IEC 60250：1969）

GB/T 1693-2007 《硫化橡膠 介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法》

ASTM D150 《Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric Constant) of Solid Electrical Insulation》

測試方法的選擇

測量電容率和介質損耗因數(shù)的方法可分成兩種：零點指示法和諧振法。

1.零點指示法適用于頻率不超過50MHz時的測量。測量電容率和介質損耗因數(shù)可用替代法；也就是在接入試樣和不接試樣兩種狀態(tài)下，調節(jié)回路的一個臂使電橋平衡。通常回路采用西林電橋、變壓器電橋（也就是互感耦合比例臂電橋）和并聯(lián)T型網絡。變壓器電橋的優(yōu)點：采用保護電極不需任何外加附件或過多操作，就可采用保護電極；它沒有其他網絡的缺點。

2.諧振法適用于10kHz?幾百MHz的頻率范圍內的測量。該方法為替代法測量，常用的是變電抗法。但該方法不適合采用保護電極。

試驗步驟

1. 試樣的制備

試樣應從固體材料上截取，為了滿足要求，應按相關的標準方法的要求來制備。

應精確地測量厚度，使偏差在±（0.2%土0.005mm）以內，測量點應均勻地分布在試樣表面。必要時，應測其有效面積。

2.條件處理

條件處理應按相關產品規(guī)范規(guī)定進行。

3.測量

電氣測量按LDJD-B高頻介電常數(shù)測試設備說明書進行測量。

在1MHz或更高頻率下，必須減小接線的電感對測量結果的影響。此時，可采用同軸接線系統(tǒng)（見圖1所示），當用變電抗法測量時，應提供一個固定微調電容器。